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纳米技术是一个重要的新研究领域，它对于电子、材料、生物、替代能源和很多其他应用都将产生巨大的推动作用。 要想掌握新的组件材料如纳米晶体、纳米管、纳米线和纳米光线在未来电子器件中的行为特征，需要能够在很宽范围内进行电阻和电导率特征分析的测试仪器。这常常需要测量很小的电流和电压。

内部的偏置 当输入端没有施加电压时， 纳伏表 和纳伏前置放大器很少会指示零读数。这是因为在仪器的输入端不可避免地存在着电压偏置。仪器的输入端子之间用一个“短路头”连接，其输出到仪表的输入即为零，也可使用仪器前面板上的消零控制或者用计算机控制来置零。如果输入端的短路点具有很低的热电动势，用这种方法就

所有的测量仪器都需要定期地重新校准，通常每年一次。对于仪器的功能我们希望能够更经常地检查。下面介绍验证 静电计 功能的简单测试方法。 电流功能 首先，打开电源，按照维修手册中规定的时间对仪表进行预热。然后，在输入连接器上安放一个屏蔽盖，并将低阻抗输入端连到地。应当将零点检查打开。接着将仪表设

正向电压测试（VF）和光学测试 VF测试验证的是可见光LED的正向工作电压。当把一个正向电流加载到二极管上时，它开始导通。在开始电流值较低时，二极管上的电压降快速增大，但是随着激励电流的增加，电压上升的斜率开始变平。二极管通常工作在电压相对稳定的这一区域。在这些工作条件下测试二极管也十分有用。正向电压测

吉时利仪器前推出了3732型四体4x28超高密度笛簧继电器矩阵卡。该卡具有448个单极矩阵交叉点，是专门针对需要多个仪器链接和高密度交叉点和高速度的自动开关与测量应用而设计的。它是各种高管脚数研发与生产测试应用的理想解决方案，例如高速存储器接口板或下一代IC插座的低电平接触电阻测试。要想了解有关3732的更多

先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司（NYSE：KEI），日前增强了其受欢迎的ACS基础版软件，从而增加对更宽范围的源测量（SMU）仪器的支持。扩大兼容仪器的选择范围对于扩展该软件的电压和电流极限用于太阳能电池、光伏板和分立功率半导体测试特别有用。ACS基础版在简单易用的工具中集成了高速硬件控制、设

　　吉时利仪器公司今日推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能，实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程，大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力

PXI（仪用PCI扩展 总线 ）以业界标准的PCI接口为基础。利用PXI 总线 对底板上的信号进行定时和触发，可以在无需外部连接的情况下实现多台设备的同步。PXI模块可以将数据传输到内部的或嵌入式PC中进行分析。PXI 总线 接口的性能指标包括通道的数目和数据传输率，在串行通信中数据传输率通常表示为每秒多少兆字节。 PXI和

脉冲技术的使用对于高k栅极材料的验证和演进MOSFET器件的生产工艺特别重要。许多新技术的漏电流还是比成熟技术的高，但是材料中存在大量表面态和陷阱。为了完整的分析表面态和陷阱，通常需要多种测量技术。通常，这些测量技术包括直流 I-V、脉冲I-V、C-V和电荷泵测量。 一种单脉冲电荷俘获（SPCT） 的新技术使用脉冲发