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  • Vicor一代DC-DC电源模块,

    http://www.lm-power.cn/vicor.htm   VI-200/J00/MI-200/J00 订定高功率,低噪声, 可靠, 应用灵活的模块基准   一代产品选型号表: Vicor的 VI-200及VI-J00系列DC-DC转换器具备高功率, 低噪声, 可靠及应用简易等优点, 为业界定下电源模
    分类: VICOR电源|426 次阅读|没有评论
  • 芯片测试流程,第二篇:Burn-in

    Burn-in          Burn-in is an electrical stress test that employs voltage and temperature to accelerate the electrical  failure of a device.  Burn-in essentially simulates the operating life of the device, since th
    分类: 芯片测试|2367 次阅读|没有评论
  • 芯片测试流程,第一篇:Test:  Electrical Test

    Test:  Electrical Test        Electrical testing is the identification and segregation of electrical failures from a population of devices.  An electrical failure is any unit that does not meet the electrical specifications defined for
    分类: 芯片测试|1801 次阅读|没有评论
  • Vicor全型、小型和微型DC-DC电源模块,

    http://www.lm-power.cn/VICOR.htm   Vicor的全型、小型和微型DC-DC转换器模块,标志着同类产品在性能表现及灵活性方面的大跃进. 透过先进的功率处理, 控制及封装技术, 降低了每瓦功率的处理成本, 而功率密度却增加了三倍. 低噪声的零电流及零电压开关架构, 以及半导体功率组件封装, 减低温升, 提高功率密
    分类: VICOR电源|535 次阅读|没有评论
  • BGA测试插座,BGA Socket-FastLock Type Socket

    http://www.lingmei.com.cn/ETEC-Fast%20lock.htm BGA/CSP/LGA测试插座产品,并可根据客户芯片的规格,提供定制化的服务 .BGA测试插座分球形出脚(SMT)和针形出脚两种设计.球形出脚的BGA插座系统主要适用于芯片的测试及开发等.该插座系统的特点是不用在PCB板上开孔,BGA插座的焊接方法和BGA芯片的焊接方法完全一样.同时
    分类: 芯片测试|776 次阅读|没有评论
  • BGA测试插座,BGA Socket

    http://www.lingmei.com.cn/E-TEC.htm   产品特点: Any package style: ceramic & plastic BGA, CSP, LGA, CGA, PSGA, MLF/QFN,QFP, SOIC, and other standard packages, custom packages or bare die Inductance: less than 2nH -1dB bandwidth: >14GHz fo
    分类: 芯片测试|406 次阅读|没有评论